CTI华测检测半导体检测及分析中心实验室全面升级

3月13日，华测检测认证集团股份有限公司（CTI华测检测）半导体检测及分析中心实验室升级仪式在上海市浦东新区举行，标志着实验室已顺利完成全面升级工作。本次升级涵盖硬件设施更新、检测流程优化及技术体系完善等多个关键领域。同时，技术展望研讨会也同期召开，围绕检测技术的发展趋势与创新方向进行深入交流。

CTI华测检测集团总裁申屠献忠指出，此次CTI华测检测半导体检测及分析中心实验室全面升级之后，将重点推进两大战略：一是深化与优质供应商的战略合作，持续提升检测硬件水平；二是强化人才队伍建设。CTI华测检测半导体检测及分析中心实验室失效分析技术总监沈玄博士分享，失效分析实验室已完成全面升级，实验室面积扩增至一千多平，新增3D-Xray、FIB、TEM、X-prep等新机台新技术。同时，实验室通过引进资深技术团队，完善检测分析技术。（美通社，2025年3月18日深圳）